電気・光ポッケルス効果を用いた宇宙線モニタリングシステムの開発
電気・光ポッケルス効果を用いた宇宙線モニタリングシステムの開発
カテゴリ: 全国大会
論文No: 1-288
グループ名: 【全国大会】平成13年電気学会全国大会論文集
発行日: 2001/03/21
タイトル(英語): Development of Cosmic Ray Measurement System using Pockels Effect
著者名: 石川 雅康(武蔵工業大学),斎藤 寛子(武蔵工業大学),渡邉 力夫(武蔵工業大学),田中 康寛(武蔵工業大学),冨田 信之(武蔵工業大学),室岡 義広(武蔵工業大学),高田 達雄(武蔵工業大学)
著者名(英語): Masayasu Ishikawa(Musashi Institute of Technology),Hiroko Saitou(Musashi Institute of Technology),Rikio Watanabe(Musashi Institute of Technology),Yasuhiro Tanaka(Musashi Institute of Technology),Nobuyuki Tomita(Musashi Institute of Technology),Yoshihiro Murooka(Musashi Institute of Technology),Tatsuo Takada(Musashi Institute of Technology)
キーワード: ポッケルス効果|光計測|宇宙線|電界計測|電荷分布|位相変調
要約(日本語): 本研究は電気・光ポッケルス効果を利用した宇宙帯電計測(荷電粒子エネルギーと線量)装置を開発するものである。荷電粒子エネルギーと線量を同時計測するために、帯電したポッケルス結晶中の2次元電界分布を測定する必要がある。これを実現するために、電界分布に比例した偏光位相差分布をCCDカメラで光強度分布として測定する2次元計測システムを開発している。そこで、この計測のシステムとアルゴリズムを利用し、装置のシステム関数と偏光位相差による固有関数を分離することにより、面光源強度の不均一性、CCDカメラ感度の
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 223 Kバイト
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