残留電圧測定によるポリイミドの劣化の評価

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-031

グループ名: 【全国大会】平成13年電気学会全国大会論文集

発行日: 2001/03/21

タイトル(英語): Evaluation of Degradation in Polyimide by Recovery Voltage Measurements

著者名: 山口 晃(早稲田大学),WeiWei (早稲田大学),平井 直志(早稲田大学),大木義路 (早稲田大学),財満英一 (東京電力),岡部 成光(東京電力)

著者名(英語): Akira Yamaguchi(Waseda University),Wei Wei(Waseda University),Naoshi Hirai(Waseda University),Yoshimichi Ohki(Waseda University),Eiichi Zaima(Tokyo Electric Company),Shigemitsu Okabe(Tokyo Electric Company)

キーワード: 残留電圧|ポリイミド|劣化|アルカリ

要約(日本語): 本研究では全芳香族ポリイミド（API）と熱可塑性ポリイミド（TPI）を用いて溶媒（H₂O、KOH）に室温で一定時間浸漬した後の残留電圧を測定した。厚さ125μmで、直径20mmの金電極を両面に蒸着した試料を3時間、9時間、24時間浸漬した。残留電圧は160℃でDC3ｋVを30分間印加し、1分間短絡をした後に静電電圧計により測定した。残留電圧値の変化はAPIの方がTPIより大きく、またH₂Oにおいては、残留電圧変化は一様に増加傾向にあるのに対し、KOHにおいては浸

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 86 Kバイト