ポリイミドフィルム中に形成された空間電荷の減衰特性

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-049

グループ名: 【全国大会】平成13年電気学会全国大会論文集

発行日: 2001/03/21

タイトル(英語): Decay Characteristics of Space Charge in a　Polyimide Film

著者名: 後藤裕史 (豊橋技術科学大学),村上 義信(豊橋技術科学大学),村本 裕二(豊橋技術科学大学),穂積直裕 (豊橋技術科学大学),長尾 雅行(豊橋技術科学大学)

著者名(英語): Hirofumi Goto(Toyohashi University of Technology),Yoshinobu Murakami(Toyohashi University of Technology),Yuji Muramoto(Toyohashi University of Technology),Naohiro Hozumi(Toyohashi University of Technology),Masayuki Nagao(Toyohashi University of Technology)

キーワード: ポリイミド|空間電荷|界面|トラップ

要約(日本語): 現在、さまざまな研究機関でパルス静電応力法（PEA法）などの非破壊的な測定を用いた絶縁体内の電荷分布の測定が盛んに行われている。ポリイミドにおいても、いくつか報告がされており、室温・乾燥時においては、電極と試料の界面付近に空間電荷が形成されることがわかっている。しかしこの空間電荷の形成に影響を及ぼすと考えられているキャリアトラップなどの界面の特性については、あまり知られていない。そこでPEA法を用い、直流高電圧印加後、回路を短絡させた状態においてポリイミドフィルムの空間電荷減衰特性の検討を行った。その結果

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 92 Kバイト