針-平板電極系におけるポリイミドLB超薄膜の帯電及び絶縁破壊電圧測定

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-070

グループ名: 【全国大会】平成13年電気学会全国大会論文集

発行日: 2001/03/21

タイトル(英語): Electrostatic Properties and Breakdown Voltage of Ultra-Thin Polyimide Langmuir-Blodgett Films Biased Under at Needle-Plane Electrode System

著者名: 福澤 雅弘(九州産業大学),山下 宏(九州産業大学),池堂 弘志(九州産業大学),武藤伸吾 (九州産業大学),岩本 光正(東京工業大学)

著者名(英語): Masahiro Fukuzawa(Kyushu Sangyo Univ.),Hiroshi Yamashita(Kyushu Sangyo Univ.),Hiroshi Ikedo(Kyushu Sangyo Univ.),Shingo Muto(Kyushu Sangyo Univ.),Mitumasa Iwamoto(Tokyo Inst. of Tech)

キーワード: LB膜|絶縁破壊|変位電流

要約(日本語): 我々は有機材料の絶縁性の向上において重要な界面電気現象を厚さ数nmの有機超薄膜を用いその電気的挙動を調査し、絶縁破壊機構との関連性及び解明を目的として研究をしている。Langmuir-Blodgett法で様々な金属上にポリイミド超薄膜を形成し、針?平板電極系で電圧印加を行い、表面電位法及び変位電流法で測定を行った。また球?平板電極系を用いて絶縁破壊の電流測定を行った。その結果、接触帯電により電極から薄膜に移動した電子が電圧印加により移動する事で帯電すること、帯電に下部電極の種類に依存すること、絶縁破壊時に

原稿種別: 日本語

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