マハラノビス・タグチシステム法による絶縁劣化診断

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-084

グループ名: 【全国大会】平成13年電気学会全国大会論文集

発行日: 2001/03/21

タイトル(英語): Diagnosis of the Degradation of Insulating Material Using the Mahalanobis-Taguchi System Method

著者名: 三木 伸介(三菱電機),岡澤周 (三菱電機)

著者名(英語): Shinsuke,Miki|Hiroshi,Okazawa

キーワード: 受配電機器|絶縁材料|劣化|診断|マハラノビス・タグチシステム法

要約(日本語): 電気機器の信頼性を支配する絶縁材料の劣化評価技術の確立による寿命予測技術の開発を進めている。絶縁材料の劣化評価にマハラノビス・タグチシステム法を適用し、非破壊で絶縁劣化評価が可能な技術を開発した。硝酸イオン濃度等の３項目の特性値が劣化評価に有効であることを見出し、マハラノビスの距離を用いて劣化度を評価した。マハラノビスの距離が電気特性（表面抵抗）と良好な相関（相関係数0.96）をもっていることから、絶縁劣化評価が可能であることを確認した。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 178 Kバイト