トリーイング劣化時に対する群小部分放電の影響

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-147

グループ名: 【全国大会】平成13年電気学会全国大会論文集

発行日: 2001/03/21

タイトル(英語): Influence of Swarming Pulsive Micro Discharge at Tree Degradation

著者名: 山森 雅之(武蔵工業大学),川久保 敦雄(武蔵工業大学),江原由泰 (武蔵工業大学),岸田 治夫(武蔵工業大学),伊藤泰郎 (武蔵工業大学)

著者名(英語): Masayuki Yamamori(Musashi Institute of Technology),Nobuyoshi Kawakubo(Musashi Institute of Technology),Yosiyasu Ehara(Musashi Institute of Technology),Haruo Kisida(Musashi Institute of Technology),Tairou Ito(Musashi Institute of Technology)

キーワード: トリー|フラクタル次元

要約(日本語): 電力ケーブルに用いられる高分子絶縁材料の課電劣化試験においてボイドを有する試料では、劣化時間の経過に伴い放電電流や最大放電電荷の低下や消滅が観測されている。この現象は群小部分放電と呼ばれ、放電電荷が非常に微少だが、単位時間当たりの放電発生頻度が非常に多い放電形態である。本研究では、この群小部分放電が、トリー発生後へ及ぼす影響を検討するため，試料を群小化の有無にわけ、トリーチャネルの密度をフラクタル次元によって求め、比較した。その結果、群小化を経由した試料は、群小化をしなかった試料に比べ、トリーチャネルの密

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 248 Kバイト