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和周波発生システムのLDS765色素劣化評価

和周波発生システムのLDS765色素劣化評価

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カテゴリ: 全国大会

論文No: 3-019

グループ名: 【全国大会】平成13年電気学会全国大会論文集

発行日: 2001/03/21

タイトル(英語): Lifetime Evaluation of LDS765 Laser Dye in A Sum Frequency Generation System.

著者名: 森 秀人(東京工業大学),名雪 琢也(電力中央研究所),福地 哲生(電力中央研究所),曹念文 (電力中央研究所),藤井 隆(電力中央研究所),根本 孝七(電力中央研究所),竹内 延夫(千葉大学)

著者名(英語): Hideto Mori(Tokyo Institute of Technology),Takuya Nayuki(CRIEPI),Tetsuo Fukuchi(CRIEPI),Cao Nainwen(CRIEPI),Takashi Fujii(CRIEPI),Koushichi Nemoto(CRIEPI),Nobuo Takeuchi(Chiba University)

キーワード: NO2計測|和周波発生システム

要約(日本語): 大気中微量物質の高精度計測法の一つである差分吸収ライダー法で、NO2を計測する場合、従来はクマリン系色素をYAGレーザーの第3高調波で励起していたが、色素の劣化が顕著で、長時間計測には不向きであった。そこで、本研究では長時間計測のための合理的な和周波システムを開発し、その長時間運転特性を評価した。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 493 Kバイト

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