CIC導体における長時定数結合損失に関する検討
CIC導体における長時定数結合損失に関する検討
カテゴリ: 全国大会
論文No: 5-186
グループ名: 【全国大会】平成13年電気学会全国大会論文集
発行日: 2001/03/21
タイトル(英語): Irregular AC Losses with Long-time Constants in Cable-in-conduit Conductor
著者名: 津田 理(山口大学),吉田 基延(山口大学),島村 浩史(山口大学),角正陽平 (山口大学),原田 直幸(山口大学),浜島 高太郎(山口大学),高畑 一也(核融合科学研究所),佐藤 隆(核融合科学研究所)
著者名(英語): Makoto Tsuda(Yamaguchi University),Motonobu Yoshida(Yamaguchi University),Hiroshi Shimamura(Yamaguchi University),Yohei Kakusho(Yamaguchi University),Naoyuki Harada(Yamaguchi University),Takataro Hamajima(Yamaguchi University),Kazuya Takahata(NIFS),Takasi Satow(NIFS)
キーワード: 超伝導|SMES|CIC導体|交流損失|結合損失|長時定数
要約(日本語): SMESコイルに発生する結合損失は、その時定数が短時定数および長時定数のものとに分けられる。短時定数の結合損失はツイストピッチに依存し、短尺試料における測定結果と一致する。一方、長時定数の結合損失はコイルにしてはじめて現れるものであり、その発生原理を究明することが課題とされている。そこで、この長時定数ループの発生原因について検討するために、CIC導体内の素線の軌跡を調べ、計算より求めた軌跡と比較した。また、素線間の接触状況が異なる場合について、接触抵抗の比較検討を行った。
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 521 Kバイト
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