超音波とダイオード転流回路を用いた低圧開閉器の接触不良検出

カテゴリ: 全国大会

論文No: 6-215

グループ名: 【全国大会】平成13年電気学会全国大会論文集

発行日: 2001/03/21

タイトル(英語): Detection of Poor Contacting on Low Voltage Switch Circuit by Ultrasonic Wave and Diode Commutation Circuit

著者名: 原 英喜(名古屋工業大学),中村 光一(名古屋工業大学)

著者名(英語): Hideki Hara(Nagoya Institute of Technology),Koichi Nakamura(Nagoya Institute of Technology)

キーワード: 低圧開閉器|超音波|ダイオード転流回路|接触不良検知

要約(日本語): This paper presents a detection method of poor contacting of low voltage switch in the normal current state under the legal scheduled inspection. This is an unique method using ultrasonic wave and a diode commutation circuit.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 105 Kバイト