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実変電所における低インパルス電圧印加による制御回路への移行サージ測定

実変電所における低インパルス電圧印加による制御回路への移行サージ測定

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カテゴリ: 全国大会

論文No: 7-115

グループ名: 【全国大会】平成13年電気学会全国大会論文集

発行日: 2001/03/21

タイトル(英語): Measurement of Induced Surge in Control Circuit of Switchgear at 77kV Substation

著者名: 隅 和憲(富士電機),植田 俊明(中部電力),田之倉 一夫(富士電機),小野 浩志(富士電機),臼井 昇(富士電機)

著者名(英語): Kazunori Sumi(Fuji Electric Co.,Ltd.),Toshiaki Ueda(Chubu Electric Power Co.,Inc.),Kazuo Tanokura(Fuji Electric Co.,Ltd.),Hiroshi Ono(Fuji Electric Co.,Ltd.),Noboru Usui(Fuji Electric Co.,Ltd.)

キーワード: 配電用変電所|電子化|制御回路|開閉装置|GIS|雷インパルス

要約(日本語): 配電用変電所において開閉装置の制御回路を電子化,屋外分散配置する方向性があるが,その場合,制御回路は過酷なサージ環境にさらされる。実変電所おいて制御ユニットを設置し,侵入するサージを測定しているが,この一環として開閉装置に低インパルス電圧を印加し,その低圧制御回路に移行するサージ電圧を測定した。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 668 Kバイト

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