太陽電池アレイにかかる影の定量的な判定方法
太陽電池アレイにかかる影の定量的な判定方法
カテゴリ: 全国大会
論文No: 7-146
グループ名: 【全国大会】平成13年電気学会全国大会論文集
発行日: 2001/03/21
タイトル(英語): The Quantitative Judgment Method of Shadow covering the Photovoltaic Array
著者名: 三品 徳久(名城大学),河村 一(名城大学),山中 三四郎(名城大学),河村 英昭(名城大学),大野 英之(名城大学),内藤 克彦(名城大学)
著者名(英語): Tokuhisa Mishina(Meijo University),Hajime Kawamura(Meijo University),Sanshiro Yamanaka(Meijo University),Hideaki Kawamura(Meijo University),Hideyuki Ohno(Meijo University),Katuhiko Naito(Meijo University)
キーワード: 太陽電池アレイ|影|判定方法|I-V特性
要約(日本語): 筆者らは太陽電池の発電電力低下を診断する方法を研究している。これまでに太陽電池アレイの一部に影がかかった場合のI-Vカーブをシミュレーションにより検討を行い、その形状から太陽電池アレイにかかる影の割合を評価できる可能性を指摘してきた。そこで本研究では、サブアレイの実測データを用い、I-Vカーブの特徴から影のかかったモジュールの枚数を判定する方法を検討した。その結果、開放電圧と段差のできた部分の電圧の比を求めることによって、太陽電池アレイの面積に対する影の割合を判定することが可能であることが判明した。
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 111 Kバイト
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