ポッケルス表面電位計の開発と沿面放電残留電荷の二次元分布測定(その2)

カテゴリ: 全国大会

論文No: 1-051

グループ名: 【全国大会】平成14年電気学会全国大会論文集

発行日: 2002/03/26

タイトル(英語): Surface Potential Probe Based on Pockels Sensing Technique and its Application for Charge Density Measurement on Insulating Material (Part2)

著者名: 新田 英之(東京大学),春野 健太郎(東京大学),熊田 亜紀子(東京電力),千葉 政邦(東京大学),日高 邦彦(東京大学)

著者名(英語): Hideyuki Nitta(The University of Tokyo),Kentaro Haruno(The University of Tokyo),Akiko Kumada(Tokyo Electric Power Company),Masakuni Chiba(The University of Tokyo),Kunihiko Hidaka(The University of Tokyo)

キーワード: ポッケルスセンサ|沿面放電|BGO結晶|表面電荷法

要約(日本語): 表面の電位を測定対象物に擾乱を与えることなく測定できるという利点を利用して、ポッケルス効果を用いた電位センサを開発し、そのセンサを表面電位計として使用するための研究と、それを用いた沿面放電残留電荷の測定、計算を行った。本研究では、微少な出力を正確に検出するために、ポッケルスセンサに電界変調をかけ、ロックインアンプで変調信号を測定するという方法を用いているが、変調による影響が測定対象物に及ぶ可能性があるため、接地電極の位置などを改良した新型のセンサを設計、製作した。本研究の測定システムでは、1mm四方の測定点に関するセンサの出力より、残留電荷を逆算して求めた。従来の計算方を改良し、より信頼度の高い電荷量の計算ができるようになった。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 219 Kバイト