スペクトル線拡がりを利用した真空アークプラズマ計測
スペクトル線拡がりを利用した真空アークプラズマ計測
カテゴリ: 全国大会
論文No: 1-109
グループ名: 【全国大会】平成14年電気学会全国大会論文集
発行日: 2002/03/26
タイトル(英語): The vacuum arc plasma measurement using a spectrum line broadening
著者名: 浦和 昌一(日本工業大学),高橋 真治(日本工業大学),新井 一由(日本工業大学),森宮 脩(日本工業大学)
著者名(英語): Shouichi Urawa(Nippon Institute of Technology),Shinji Takahashi(Nippon Institute of Technology),Kazuyoshi Arai(Nippon Institute of Technology),Osami Morimiya(Nippon Institute of Technology)
キーワード: ファブリ・ペロー干渉計|真空アーク|バルマー系列|スペクトル線拡がり|水素
要約(日本語): 本研究は、水素のスペクトル線の拡がりをファブリ・ペロー干渉計により測定し、真空アークプラズマ計測を行った。水素のスペクトル線はバルマー系列のHαを測定対象とした。チャンバからの光をフィルターによりHαの波長に変えてファブリ・ペロー干渉計に入射して測定を行い、その測定値をグラフ化して、そのグラフより半値全幅を計算により求めた。計算値から密度は1×10^20[1/m^3]なので、シュタルク効果が少ないということが解るので、ドップラー効果が拡がりに影響があるとして、この求めた半値全幅より半値全幅とガス温度の関係のグラフより、ガス温度を求めたところ約2500[K]ぐらいということがわかった。
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 117 Kバイト
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