TS-4プラズマ合体実験における二次元イオン温度分布計測
TS-4プラズマ合体実験における二次元イオン温度分布計測
カテゴリ: 全国大会
論文No: 1-182
グループ名: 【全国大会】平成14年電気学会全国大会論文集
発行日: 2002/03/26
タイトル(英語): Two-Dimensional Measurement of Plasma Ion Temperature Profile in TS-4 Merging Experiment
著者名: 山野上 登志子(東京大学),五十嵐 拓朗(東京大学),村田 幸弘(東京大学),小野 靖(東京大学),桂井 誠(東京大学)
著者名(英語): Toshiko Yamanoue(The University of Tokyo),Takuro Igarashi(The University of Tokyo),Yukihiro Murata(The University of Tokyo),Yasushi Ono(The University of Tokyo),Makoto Katsurai(The University of Tokyo)
要約(日本語): TS-4装置において、可視光トモグラフィーによる二次元イオン温度分布計測を行う。計測の対象として、2つのトーラスプラズマを合体させた際の磁気リコネクションのXポイント付近のイオン温度分布を選んだ。 磁気リコネクションが起こる際に、Xポイントにおいて大きな熱エネルギーが排出されることはよく知られている。この加熱機構の解明の足掛かりとしてXポイント付近の温度分布を計測することは重要である。 TS-4装置においては、トカマク、スフェロマック、RFPの合体を行うことができる。それらの合体時のXポイント付近の発光を光ファイバーアレイで受光し、分光してCCDカメラで計測してPCに取り込み、計算機トモグラフィーにより二次元温度分布を出している。
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 117 Kバイト
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