高電圧機器のセラミックス表面状態の電界発光を用いた高感度計測

カテゴリ: 全国大会

論文No: 1-211

グループ名: 【全国大会】平成14年電気学会全国大会論文集

発行日: 2002/03/26

タイトル(英語): A Sensitive Measurement of Ceramics Surface State in High Voltage Apparatus Using Electroluminescence Technique

著者名: 高久 拓(東京工業大学),児山 剛(東京工業大学),椎名 淳(東京工業大学),井深 真治(東京工業大学),安岡 康一(東京工業大学),石井 彰三(東京工業大学)

著者名(英語): Taku Takaku(Tokyo Institute of Technology),Takeshi Koyama(Tokyo Institute of Technology),Jun Shiina(Tokyo Institute of Technology),Shinji Ibuka(Tokyo Institute of Technology),Koichi Yasuoka(Tokyo Institute of Technology),Shozo Ishii(Tokyo Institute of Technology)

キーワード: 電界発光|セラミックス|表面状態

要約(日本語): 高電圧の印加により発生する電界発光は，固体絶縁物の劣化診断や，表面の電荷分布や挙動の高精度な計測に有効である。本研究では，電子放出源などに利用されるPZTと電気絶縁や放電応用に用いられるアルミナの表面状態のそれぞれの応用に対する影響を電界発光を用いて検討した。試料特性評価に従来使われてきている電極構造は実際の高電圧機器や放電応用におけるものとして適当でないため，新しい形状とした。試料表面での電荷の挙動や活性状態が絶縁や放電に与える影響について調べたところ，電界発光はセラミックス材料やその表面状態，雰囲気ガスによって異なり，発光の特性も従来の電極構造で観測されたものと異なる結果が得られた。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 139 Kバイト