模擬ボイド表面の残留電荷分布と放電劣化領域の経時変化

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-020

グループ名: 【全国大会】平成14年電気学会全国大会論文集

発行日: 2002/03/26

タイトル(英語): Time Variations of Residual Charge Distribution and Aging Area on An Artificial Cavity Surface

著者名: 今井 國治(名古屋大学),木下 幸弘(名古屋工学院専門学校),平石 義博(名古屋工学院専門学校)

著者名(英語): Kuniharu Imai(Nagoya University),Yukihiro Kinoshita(Nagoya Kogakuin Collage of Technology),Yoshihiro Hiraishi(Nagoya Kogakuin Collage of Technology)

キーワード: 模擬ボイド|残留電荷分布|放電劣化領域|ポリプロピレン

要約(日本語): 本研究では模擬ボイドモデルを用いて、模擬ボイド表面に蓄積した負極性残留電荷領域及び放電劣化生成物が堆積している領域の経時変化を求めた。その結果、負極性残留電荷領域は、ある一定の大きさにまで成長すると飽和するのに対し、放電劣化領域は時間の経過と共に対数関数的に増大することを明らかにした。また、PPフィルムが絶縁破壊する数十秒前に、両者の範囲がほぼ一致することも明らかにした。このことから、放電劣生成化物が形成する際、余剰となった負イオンが負極性残留電荷として働き、これがフィルムの絶縁破壊を引き起こしているのではないかと考察した。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 352 Kバイト