ポリエチレン架橋剤分解残渣の電荷トラップ作用に与る化学構造

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-052

グループ名: 【全国大会】平成14年電気学会全国大会論文集

発行日: 2002/03/26

タイトル(英語): Chemical Structure Responsible for Charge Trapping by Byproducts of Crosslinking Agent for Polyethylene

著者名: 南 亮太郎(早稲田大学),平井 直志(早稲田大学),田中 祀捷(早稲田大学),大木義路 (早稲田大学),岡下 稔(昭和電線電纜),前野 恭(通信総合研究所)

著者名(英語): Ryotaro Minami(Waseda University ),Naoshi Hirai(Waseda University ),Toshikatsu Tanaka(Waseda University ),Yoshimichi Ohki(Waseda University ),Minoru Okashita(Showa Electric Wire and Cable ),Takashi Maeno(Communications Research Laboratory )

キーワード: ポリエチレン|空間電荷 　|電力ケーブル 　|電荷トラップ|水酸基

要約(日本語): 我々の研究により、ポリエチレンの架橋剤分解残渣のうち、分子構造中にベンゼン環とOH基を有するクミルアルコールのみが注入されてきた電荷をトラップすることが見出された。この原因を探るために、ドデシルベンゼン（ベンゼン環：有、OH基：無）、ジブチルヒドロキシトルエン（ベンゼン環：有、OH基：有）、グリセリンステアラート（ベンゼン環：無、OH基：有）の三種類の薬品を用い、それらを低密度ポリエチレンに浸透させ、空間電荷分布測定を行った。この結果、ベンゼン環の有無にかかわらず、OH基がある薬品では、クミルアルコールと同様に注入電荷がトラップされることがわかった。OH基が正および負の電荷を蓄積する作用をもたらしていると考えられる。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 262 Kバイト