低圧ケーブルの経年劣化への光診断法の適用

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-120

グループ名: 【全国大会】平成14年電気学会全国大会論文集

発行日: 2002/03/26

タイトル(英語): Application to aging of Low-Voltage Cable on Optical Diagnosis

著者名: 片桐 純一(日立製作所),竹澤由高 (日立製作所),庄司 弘志(日立製作所),大高 健一(日立製作所),竹内 力(日立製作所)

著者名(英語): Jun'ichi Katagiri(Hitachi,Ltd.),Yoshitaka Takezawa(Hitachi,Ltd.),Hiroshi Shouji(Hitachi,Ltd.),Kenichi Ootaka(Hitachi,Ltd.),Chikara Takeuchi(Hitachi,Ltd.)

キーワード: 低圧ケーブル|診断|反射吸光度|熱劣化|放射線劣化|偏光

要約(日本語): 低圧ケーブルは種々の機器に数多く使用されているが，保全管理の効率化のため, ケーブルの経年変化による絶縁劣化を非破壊的に評価できる診断技術の確立が望まれている。我々は, 有機材料の劣化度を非破壊的に診断する光診断技術を一部の機器に対して確立しており，この技術を基本として偏光も併用した光診断法のケーブルへの適用に対し検討を行なった。そして，熱による劣化及び熱・放射線の複合効果により劣化した試験体を用い，分光光度計による測定で光診断法の診断指標である2波長間の反射吸光度差と偏光解消度の検討を行い，従来の評価指標である引張伸びとの相関を評価し，概ね相関関係があることを確認した。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 149 Kバイト