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クレッチマン配置を利用したポリスチレン微小球薄膜の評価

クレッチマン配置を利用したポリスチレン微小球薄膜の評価

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カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-137

グループ名: 【全国大会】平成14年電気学会全国大会論文集

発行日: 2002/03/26

タイトル(英語): Evaluation of Polystyrene Microsphere Thin Films in the Kretschmann Configuration

著者名: 宮林 隼介(新潟大学),新保 一成(新潟大学),加藤景三 (新潟大学),金子 双男(新潟大学),田中 真人(新潟大学),若松 孝(茨城工業高等専門学校)

著者名(英語): Shunsuke Miyabayashi(Niigata University),Kazunari Shinbo(Niigata University),Keizo Kato(Niigata University),Futao Kaneko(Niigata University),Masato Tanaka(Niigata University),Takashi Wakamatsu(Ibaraki National College of Technology)

キーワード: ポリスチレン微小球薄膜|クレッチマン配置|全反射減衰法|放射光

要約(日本語): ポリスチレン(PS)微小球薄膜を作製し,クレッチマン配置において、その薄膜の構造評価を行った。すなわち,プリズム/銀薄膜/ポリスチレン薄膜構造において,全反射減衰(ATR)測定および通常のATR法とは逆方向からレーザ光入射による放射光測定を行い評価した。ATR測定の結果,ポリスチレン微小球のサイズによる違いが観測され,ポリスチレン微小球の吸着状態などの構造が評価された。放射光測定からもポリスチレン微小球のサイズによる変化が観測され,ポリスチレン微小球のサイズとエバネッセント場の減衰長との関係について検討した。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 375 Kバイト

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