GaN系青色発光ダイオードの(低速)パルス動作による劣化

カテゴリ: 全国大会

論文No: 3-015

グループ名: 【全国大会】平成14年電気学会全国大会論文集

発行日: 2002/03/26

タイトル(英語): Degradation of GaN type Blue emitting diodes under Pulse Operations

著者名: 柳澤 武(産業技術総合研究所),小島 猛(産業技術総合研究所)

著者名(英語): Takeshi Yanagisawa(AIST),Takeshi Kojima(AIST)

キーワード: 発光ダイオード|パルス通電|劣化|寿命

要約(日本語): 高輝度GaN系青色発光ダイオードのパルス及び連続動作による通電劣化加速試験を行い、寿命推定した結果を述べる。パルス動作では連続に比べて、2～4倍長寿命になることがわかった。また、パルス幅依存性があり、高速ほど寿命が延びることがわかった。これらの違いは接合温度に関連する。パルス動作では、35,000時間以上の半減値寿命が推定された。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 158 Kバイト