配電盤の保守点検用携帯型汚損度チェッカー

カテゴリ: 全国大会

論文No: 4-248

グループ名: 【全国大会】平成14年電気学会全国大会論文集

発行日: 2002/03/26

タイトル(英語): Pollutant Deposition Sensor for Insulators in High-Voltage Apparatuses

著者名: 上山 智嗣(三菱電機),廣辻 淳二(三菱電機)

著者名(英語): Satoshi Ueyama(Mitsubishi Electric Corp.),Junji Hirotsuji(Mitsubishi Electric Corp.)

キーワード: 汚損度|塩分|高電圧設備|絶縁破壊

要約(日本語): 配電盤表面の絶縁破壊事故予防保全において、塩分やごみによる汚損度の計測は重要であるが、大変な労力を必要とする。そこで効率的に保守業務を行うため、簡単で精度よく測定できるチェッカーが求められている。今回、汚損度を迅速簡単に測定できる携帯型チェッカーを業界で初めて開発した。ヘッド部を被測定表面に押し当て、ここに形成される微小定容積内に特殊な溶解液を注入し、表面の固着汚損物質を迅速に溶解させて、液導電率を測定する。これにより、従来15分掛かっていた汚損度を90秒以内で再現性よく測定できるようになった。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 223 Kバイト