きずに沿った電位差によりきず深さを検出する電磁誘導式電位差法に関する研究

カテゴリ: 全国大会

論文No: 4-250

グループ名: 【全国大会】平成14年電気学会全国大会論文集

発行日: 2002/03/26

タイトル(英語): A Four Needles Potential Difference Probe for Measuring Flaw Depth using Electromagnetic Induction

著者名: 小山 潔(日本大学),星川 洋(日本大学),武井 大輔(日本大学)

著者名(英語): Kiyoshi Koyama(Nihon University),Hiroshi Hoshikawa(Nihon University),Daisuke Takei(Nihon University)

キーワード: 非破壊試験|電位差法|電磁誘導|きず深さ

要約(日本語): 金属表面のきず深さの評価を行う方法として交流電位差法がある。交流電位差法では電磁誘導により試験体に電流を誘導する方法が検討されている。電磁誘導を用いた方法では、電位測定回路が励磁コイルによる直接的な磁界の影響を受ける問題がある。そこで、電位と渦電流の関係に基づき新しい考え方の電磁誘導式電位差プローブを提案し、このプローブの基礎的なきず検出特性について報告する。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 289 Kバイト