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Y系高温超電導薄膜を用いた限流素子の限流試験

Y系高温超電導薄膜を用いた限流素子の限流試験

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カテゴリ: 全国大会

論文No: 5-007

グループ名: 【全国大会】平成14年電気学会全国大会論文集

発行日: 2002/03/26

タイトル(英語): Experimental and calculation results of fault current limiting element with YBCO thin film

著者名: 下畑 賢司(三菱電機),横山 彰一(三菱電機),稲口 隆(三菱電機),中村 史朗(三菱電機),小沢 保夫(Super-GM)

著者名(英語): Kenji Shimohata(Mitsubishi Electric Corporation),Shoichi Yokoyama(Mitsubishi Electric Corporation),Takashi Inaguchi(Mitsubishi Electric Corporation),Shiro Nakamura(Mitsubishi Electric Corporation),Yasuo Ozawa(Super-GM)

キーワード: 超電導限流器|薄膜|Y系

要約(日本語): Y系超電導薄膜を用いた超電導限流素子において、保護膜厚を変えた限流素子の限流試験結果、および限流シミュレーションとの比較結果について報告する。限流試験の結果、局所クエンチと均一クエンチを観測し、素子仕様の最適化の目処を得た。また、均一クエンチ時の最高許容温度は約500Kであり、限流特性計算によりその妥当性を確認した。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 150 Kバイト

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