サファイア基板上YBCO薄膜導体の交流通電損失特性

カテゴリ: 全国大会

論文No: 5-056

グループ名: 【全国大会】平成14年電気学会全国大会論文集

発行日: 2002/03/26

タイトル(英語): Study of Characteristics of AC Transport Current Losses in YBCO Thin Film on Sapphire Substrates

著者名: 宮城 大輔(横浜国立大学),澤井 裕介(横浜国立大学),塚本 修巳(横浜国立大学),鳥居 慎治(電力中央研究所),秋田 調(電力中央研究所),小沢 保夫(超電導発電関連機器,材料技術研究組合)

著者名(英語): Daisuke Miyagi(Yokohama National University),Yusuke Sawai(Yokohama National University),Osami Tsukamoto(Yokohama National University),Shinji Torii(Central Research Institute of Electric Power Industry),Shirabe Akita(Central Research Institute of Electric Power Industry),Yasuo Ozawa(Super-GM)

キーワード: サファイア基板上YBCO薄膜導体|交流通電損失|n値

要約(日本語): 交流損失の低減を図るためには交流通電損失の特性を明らかにし、損失発生機構を明確にする必要がある。我々はS/N転位型限流素子として開発されているサファイア基板上YBCO薄膜超電導導体の交流通電損失周波数依存性を測定した。これまでに測定を行ったハステロイ基板上のYBCO薄膜線材の交流通電損失特性はNorrisのストリップモデルと楕円モデルの間の特性を示したが、サファイア基板上薄膜導体の通電損失特性はNorrisのストリップモデルに近い特性を示した。そこで、ストリップモデルに一致する要因として我々の解析モデルを持ちに考察を行ったので報告する。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 144 Kバイト