汚損避雷器の内部素子の挙動
汚損避雷器の内部素子の挙動
カテゴリ: 全国大会
論文No: 6-194
グループ名: 【全国大会】平成14年電気学会全国大会論文集
発行日: 2002/03/26
タイトル(英語): Behavior of internal element of surge arrester when contaminated
著者名: 大脇淳一 (名城大学),Antonio Gonzalez(名城大学),Rogelio Zarate(名城大学),内藤 克彦(名城大学),水野 幸男(名古屋工業大学)
著者名(英語): Jun'ichi Owaki(Meijo University),Antonio Gonzalez(Meijo University),Rogelio Zarate(Meijo University),Katsuhiko Naito(Meijo University),Yukio Mizuno(Nagoya Institute of Technology)
キーワード: 避雷器|酸化亜鉛素子|電位差|汚損
要約(日本語): 避雷器の碍菅表面が汚損湿潤し、乾燥していく過程で碍菅表面に生じる不均一な電位分布が内部素子中に沿った不均一電位分布を招き避雷器故障の原因となると報告されている。また、それに伴う内部素子の分担電圧および素子温度上昇のシミュレーションも行われてきた。しかし、素子温度の上昇はあまり大きくなく酸化亜鉛素子の損傷に至る可能性は低いと思われる。また、温度上昇は避雷器故障の原因ではなく、内部放電が原因となっていると報告されている。そこで、本研究では汚損時において避雷器が不均一な電位分布によって酸化亜鉛素子と碍菅内表間のギャップで放電が起きた時の内部素子の挙動を調べる。
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 256 Kバイト
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