汚損湿潤時におけるシリコーンゴム表面の漏れ電流計測（第2報)

カテゴリ: 全国大会

論文No: 7-039

グループ名: 【全国大会】平成14年電気学会全国大会論文集

発行日: 2002/03/26

タイトル(英語): Leakage Current Mesurement on Surface of Silicone Rubber under Contaminated and Wet Condition(Report No.2)

著者名: 倉 伸克(名古屋工業大学),水野 幸男(名古屋工業大学),奥平 剛(名城大学),内藤 克彦(名城大学),伊藤 進(日本ガイシ),越野 幸広(日本ガイシ)

著者名(英語): Nobukatsu Kura(Nagoya Institute of Technology),Yukio Mizuno(Nagoya Institute of Technology),Go Okudaira(Meijo University),Katsuhiko Naito(Meijo University),Susumu Ito(NGK Insulators,Ltd.),Yukihiro Koshino(NGK Insulators,Ltd.)

キーワード: 漏れ電流|シリコーンゴム

要約(日本語): ポリマーがいしの代表的な外被材料であるシリコーンゴム（SiR）の長期信頼性評価の一方法として塩霧加速劣化試験法が考案され、CIGRE SC15の国内委員会にWGを組織し、種々の実験・検討が進められている。その中で、表面漏れ電流を放電形態毎に分離計測する必要性が指摘されている。これまでコロナ放電のみを測定し試料表面の劣化について検討してきたが放電形態と劣化との関係をさらに詳細に評価するため、放電形態毎に分離計測した。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 172 Kバイト