WBFC法によるイミュニティ測定における被測定基板形状の影響に関する実験的検討

カテゴリ: 全国大会

論文No: 1-175

グループ名: 【全国大会】平成15年電気学会全国大会論文集

発行日: 2003/03/17

タイトル(英語): Experimental Study on the Effect of the Configuration of the PCB on the Immunity Testing Using WBFC Method

著者名: 香川 直己(福山大学),佐々木 健(福山大学),山岡 浩孝(福山大学),和田 修己(岡山大学),古賀 隆治(岡山大学)

著者名(英語): Naoki Kagawa(Fukuyama University),Ken Sasaki(Fukuyama University),Hirotaka Yamaoka(Fukuyama University),Osami Wada(Okayama University),Ryuji Koga(Okayama University)

キーワード: WBFC法|コモンモード|イミュニティ|集積回路

要約(日本語): 集積回路のコモンモード雑音に対するイミュニティ測定法の１つであるWBFC法において，雑音電圧を印加するコモンモードポイントや被測定基板の形状が測定結果に影響を与える可能性がある.そこで，本稿では，WBFC法によるコモンモード雑音耐性測定において基板形状が与える影響について実験的検討を行ったので報告する.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 885 Kバイト