二次元複屈折測定装置を用いた内部帯電計測

カテゴリ: 全国大会

論文No: 1-179

グループ名: 【全国大会】平成15年電気学会全国大会論文集

発行日: 2003/03/17

タイトル(英語): Measurement of Space Charge Distribution using 2-D Birefringence Measurement System

著者名: 臼井 悠輔(武蔵工業大学),磯野 剛治(武蔵工業大学),田中 康寛(武蔵工業大学),深尾 正(武蔵工業大学),高田 達雄(武蔵工業大学),室岡 義弘(芝浦工業大学)

著者名(英語): Yusuke Usui(Musashi Institute of Technology),Takeharu Isono(Musashi Institute of Technology),Yasuhiro Tanaka(Musashi Institute of Technology),Tadashi Fukao(Musashi Institute of Technology),Tatsuo Takada(Musashi Institute of Technology),Yoshihiro Murooka(Shibaura Institute of Technology)

キーワード: 複屈折|電子線照射|内部帯電|電気光学効果

要約(日本語): 宇宙機の表面絶縁材料は、宇宙線にさらされることにより電荷が蓄積し、絶縁破壊を引き起こす可能性がある。そこで我々は、電荷蓄積のメカニズムを解明するために、PMMAに電子線を照射することによって宇宙環境下での帯電を再現し、電子線照射により透明絶縁材料中に生じる複屈折を光学的に測定する手法を考案してきた。この装置を用いて電子線照射後のPMMAを測定した結果、電荷が蓄積されていると思われる部分の位相差が大きくなり、進相軸は照射方向に向いていることが分かった。また、試料の端にも位相差が大きくなっている部分が見られるが、これは残留歪みが原因となって生じるもので、光弾性効果による複屈折であると考えられる。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 711 Kバイト