ツェナー標準電圧発生器の絶縁抵抗測定法

カテゴリ: 全国大会

論文No: 1-189

グループ名: 【全国大会】平成15年電気学会全国大会論文集

発行日: 2003/03/17

タイトル(英語): A Measurement Method of Insulation Resistance of Zener Voltage References

著者名: 西中 英文(産業技術総合研究所)

著者名(英語): Hidefumi Nishinaka(NMIJ,National Institute of Advanced Industrial Science and Technology)

キーワード: ツェナー標準電圧発生器|絶縁抵抗|Y-Δ変換高抵抗測定ブリッジ|低抵抗

要約(日本語): 現在、計測器や電圧計の校正には、ツェナー標準電圧発生器が広く用いられているが、このツェナー標準電圧発生器の校正値には、測定端子とケース間の絶縁抵抗が不確かさの一因として影響してくる。一般に、絶縁抵抗は極めて高い抵抗であるためその測定は容易ではなく、また、高い抵抗標準が必要となる。このため、低抵抗を用いて、10GΩ～100TΩまでの任意の値を、測定精度1%で校正可能な、Y-Δ変換高抵抗測定ブリッジ（特願2002-315162)を考案したので、その測定法について発表する。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,406 Kバイト