光周波数による帯域通過標本化を用いた反射位置のズーミングの検討

カテゴリ: 全国大会

論文No: 1-194

グループ名: 【全国大会】平成15年電気学会全国大会論文集

発行日: 2003/03/17

タイトル(英語): Zooming Measurement of Optical Frequency Domain Reflectometry using Band Pass Sampling

著者名: 篠田 之孝(日本大学),井原 健(日本大学),真田 二朗(日本大学),肥後 尚志(日本大学)

著者名(英語): Yukitaka Shinoda(Nihon University),Ken Ihara(Nihon University),Jiro Sanada(Nihon University),Takashi Higo(Nihon University)

キーワード: セロダイン変調|光周波数領域反射測定法|帯域通過標本化

要約(日本語): 現在、光反射位置測定は光導波路型デバイス等の故障診断および評価技術として重要な課題になっている。筆者らは、外部共振器型半導体レーザを用いた光ステップ周波数掃引と圧電素子によるセロダイン変調を組み合わせた多点光反射位置測定を行っており、光反射位置が局在している場合の帯域通過標本化を用いた光反射位置のズーミングを検討している。本文は、帯域通過標本化を利用して、光学的に均一な試料の内部に局在する欠陥位置のズーミングの基礎的実験を行い、光学路長が約20mmの試料中に局在する欠陥を位置分解能19.5μmで測定を行った結果の報告である。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 619 Kバイト