2次元ロックインアンプの評価

カテゴリ: 全国大会

論文No: 1-195

グループ名: 【全国大会】平成15年電気学会全国大会論文集

発行日: 2003/03/17

タイトル(英語): Evaluation of 2-dimensional lock-in amplifier

著者名: 関根 元(武蔵工業大学),市澤寿樹 (武蔵工業大学),田中 康寛(武蔵工業大学),高田 達雄(武蔵工業大学),深尾 正(武蔵工業大学),前野 恭(通信総合研究所)

著者名(英語): Gen Sekine(Musashi Institute of Technology),Toshiki Ichizawa(Musashi Institute of Technology),Yasuhiro Tanaka(Musashi Institute of Technology),Tatsuo Takada(Musashi Institute of Technology),Tadashi Fukao(Musashi Institute of Technology),Takashi Maeno(Communications Research Laboratory)

キーワード: 雑音除去|ロックインアンプ|光学測定|微小信号|CCDカメラ

要約(日本語): ロックインアンプは測定対象を高い周波数で変調し、その周波数に同期した周波数成分のみを取り出すため、特定の周波数の信号のみ検出することが可能であり、一般に取り除くことが困難である1/f雑音や直流オフセットなどの影響を低減することが可能である。本発表ではこの手法を2次元に拡張した2次元ロックインアンプの基本原理についてまず述べ、さらにこの手法が効率的に行われているかを評価するために雑音の減衰、信号の増加、画像の取得枚数に注目した。最後に現在我々が使用している測定システムにおいてこれらの観点において評価を行った場合、画像の取得枚数に関しては条件に適合せず、改善が必要であることがわかった。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 811 Kバイト