複素単一プローブ法によるマイクロ波反射係数の測定

カテゴリ: 全国大会

論文No: 1-201

グループ名: 【全国大会】平成15年電気学会全国大会論文集

発行日: 2003/03/17

タイトル(英語): Measurement of Microwave Reflection Coefficient by Complex Single Probe Method

著者名: 高島 誠(日本品質保証機構),堀田 正洋(日本品質保証機構),恩蔵 幸博(日本品質保証機構),角田 正男(電気通信大学),岩崎 俊(電気通信大学)

著者名(英語): Makoto Takashima(Japan Quality Assurance Organization),Masahiro Hotta(Japan Quality Assurance Organization),Yukihiro Onzo(Japan Quality Assurance Organization),Masao Tsunoda(The University of Electro-Communications),Takashi Iwasaki(The University of Electro-Communications)

キーワード: 反射係数|複素単一プローブ法

要約(日本語): マイクロ波回路の重要な特性のひとつに反射係数がある。標準器として短絡器のみを用いて複素量である反射係数を測定するために、電力計を用いた単一プローブ法が開発された。しかし、この方法では、被測定負荷と測定基準面の間に長さの異なる3本のエアライン（中空同軸線路）を挿入し、3回の測定を行う必要があった。本報告では、電力の代わりに振幅と位相の両方を測定することにより、より簡単に反射係数を測定する複素単一プローブ法を提案し、その可能性を検討した。その結果、複素単一プローブ法によりマイクロ波反射係数が測定できることを確認した。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 677 Kバイト