導電性異物混入時におけるXLPE-EPR界面模擬試料の部分放電特性(II)

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-003

グループ名: 【全国大会】平成15年電気学会全国大会論文集

発行日: 2003/03/17

タイトル(英語): Partial Discharge Phenomena for Model Electrode System of XLPE-EPR Interface including Metallic Particle(II)

著者名: 川上 公明(豊橋技術科学大学),村本裕二 (豊橋技術科学大学),穂積 直裕(豊橋技術科学大学),長尾 雅行(豊橋技術科学大学),田中 祀捷(早稲田大学)

著者名(英語): Kimiaki Kawakami(Toyohashi University of Technology),Yuji Muramotmo(Toyohashi University of Technology),Naohiro Hodumi(Toyohashi University of Technology),Masayuki Nagao(Toyohashi University of Technology),Takamasa Tanaka(Waseda University)

キーワード: 異種界面|部分放電|電界緩和|経時変化|表面抵抗

要約(日本語): 架橋ポリエチレンケーブル接続部ではケーブル本体に比べ界面に欠陥が混入されやすいため、電気絶縁の弱点になりやすく故障が生じやすい。これらの初期欠陥を検出する有効な技術として部分放電測定が上げられる。そのため、各種欠陥を模擬した試料での特性把握が随所で進められている。筆者らはXLPEケーブル接続部を模擬した異種絶縁界面評価のための電極系を提案し、部分放電特性を測定している。これまで、導電性異物を界面に導入した場合、部分放電が抑制される傾向にあることを示してきた。これらは、導電性異物周辺の部分放電による電荷の存在と絶縁体表面の活性化により表面抵抗が低下し、導電性異物周辺の電界が緩和されることが原因として考えられる。そこで本研究では、導電性異物周辺の表面抵抗の経時変化を測定し、抑制傾向にある部分放電に及ぼす影響について検討したので報告する。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,344 Kバイト