模擬ボイドの放電劣化とその内部における放電諸量との相関関係

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-009

グループ名: 【全国大会】平成15年電気学会全国大会論文集

発行日: 2003/03/17

タイトル(英語): Relationship between PD degradation on surface of an artificial void and PD parameter

著者名: 今井 國治(名古屋大学),木下 幸弘(名古屋工学院専門学校),木全 浩市(タツタ電線)

著者名(英語): Kuniharu Imai(Nagoya University),Yukihiro Kinoshita(Nagoya Kogakuin College of Technology),Koichi Kimata(Tatsuta Electric Wire & Cable)

キーワード: 模擬ボイドモデル|劣化領域|負極性残留電荷領域

要約(日本語): 本研究では、ホワイトヘッドモデルを基本とする模擬ボイドモデルを作成し、その内部における部分放電(PD)の最大電荷量及びパルス数の経時変化、さらにそれに伴う放電劣化領域並び負極性残留電荷分布の変化を測定した。その結果、PDの最大電荷量及び負極性残留電荷分布の大きさは、電圧印加時間に対しほとんど変化しないことがわかった。これは模擬ボイドを構成するフィルムの固有容量で決まるからだと考察した。さらに、PDパルス数の変化と放電劣化領域の広がり方とが類似していることも明らかとなった。この関係は、PDパルス数の増加に基づく放電劣化生成物の増量とそれに伴うPDの活性化とを考慮することで定性的に説明がついた。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,525 Kバイト