電子線照射ガラス材料の空間電荷分布測定

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-063

グループ名: 【全国大会】平成15年電気学会全国大会論文集

発行日: 2003/03/17

タイトル(英語): Space Charge Accumulation in Various Glass Materials irradiated Electron beam

著者名: 三宅弘晃 (武蔵工業大学),今村浩之 (武蔵工業大学),田中康寛 (武蔵工業大学),高田達雄 (武蔵工業大学)

キーワード: 空間電荷|ガラス材料|電子線|宇宙環境

要約(日本語): ガラス材料は宇宙機の構造材や太陽電池パネル等に使用されている。宇宙環境では構造材料内部に荷電粒子が侵入・蓄積し、それにより劣化や絶縁破壊等を引き起こし宇宙機自体に深刻な障害を与える恐れがある。この劣化現象を解明する為に、試料に人工的に電子線を照射する事で宇宙環境を模擬し、電子線照射中及び照射後の空間電荷分布の測定を行った。試料には太陽電池パネルカバーを模して4種の金属化合物含有ガラスを用いた。その測定結果より、電子線を照射しているにもかかわらず試料内に正電荷の蓄積が観測される試料もあった。そこで電子線によって蓄積する電荷の極性が何よって左右されるのかの検討を行ったので報告する。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 920 Kバイト