汚損湿潤時におけるシリコーンゴム表面の漏れ電流計測
汚損湿潤時におけるシリコーンゴム表面の漏れ電流計測
カテゴリ: 全国大会
論文No: 2-100
グループ名: 【全国大会】平成15年電気学会全国大会論文集
発行日: 2003/03/17
タイトル(英語): Leakage Current Measurement of Silicone Rubber Sheet under Contaminated and Wet Condition
著者名: 大村英史 (名古屋工業大学),水野 幸男(名古屋工業大学),内藤 克彦(名城大学),伊藤 進(日本ガイシ),越野 幸広(日本ガイシ)
著者名(英語): eiji omura(Nagoya Institute of Technology ),yukio mizuno(Nagoya Institute of Technology ),katuhiko naito(Meijo University),susumu ito(NGK Insulators,Ltd.),yukihiro koshino(NGK Insulators,Ltd.)
キーワード: シリコーンゴム|がいし|漏れ電流|放電|塩霧加速劣化試験
要約(日本語): 筆者らは、ポリマーがいしの代表的な外被材料であるシリコーンゴム(SiR)の長期信頼性評価のための一方法として塩霧加速劣化試験法を想定し、丸棒状試料の放電形態毎の漏れ電流分離計測などを行ってきた。今回、板状試料を用いた場合の試験仕様を検討するための第一段階として、放電特性を調査した。実験結果から,板状試料は棒状試料に比べて、電界集中の起こらないような電極の採用、試験仕様の変更などが必要になると考えられる。今回の実験で塩霧法を適用できる目処がついたので、今後、最適な試験仕様を決定して放電特性と試料劣化との関連の観点から経時変化を調べる予定である。
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 177 Kバイト
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