ポリアミド系ナノコンポジットのIEC(b)電極による部分放電劣化

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-106

グループ名: 【全国大会】平成15年電気学会全国大会論文集

発行日: 2003/03/17

タイトル(英語): PD Degradation of Polyamide Nano-Composites by IEC(b) Electrode Method

著者名: 小迫 雅裕(早稲田大学),平井 直志(早稲田大学),大木義路 (早稲田大学),田中 祀捷(早稲田大学),岡本 達希(電力中央研究所)

著者名(英語): Masahiro Kozako(Waseda University),Naoshi Hirai(Waseda University),Yoshimichi Ohki(Waseda University),Toshikatsu Tanaka(Waseda University),Tatsuki Okamoto(CRIEPI)

キーワード: 絶縁劣化|部分放電|ポリアミド|ナノコンポジット

要約(日本語): 筆者らは新しい固体電気絶縁材料の研究開発および創製技術の確立を目指している。ポリマー系ナノコンポジットはナノテクノロジーの一環をなすもので、近年その研究開発活動は著しく加速している。現在、最も成功しているポリマー系ナノコンポジットは、無機層状珪酸塩をnmオーダーの微細強化材として用い、これをポリマーマトリックス中に均一分散させて形成させたものである。そこで、まず比較的入手が容易なポリアミド系ナノコンポジットに着目し、IEC(b)電極を用いた耐部分放電性の予備的検討を行った。実験後のSEM画像の比較結果から、ポリアミド系ナノコンポジットの耐部分放電性は、従来のポリアミドに比べて優れていることがわかった。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,033 Kバイト