一様渦電流プローブによる溶接部の探傷試験について

カテゴリ: 全国大会

論文No: 2-181

グループ名: 【全国大会】平成15年電気学会全国大会論文集

発行日: 2003/03/17

タイトル(英語): Flaw Testing of Wedl Zone by Uniform Eddy Current Probe

著者名: 小山 潔(日本大学),星川 洋(日本大学)

著者名(英語): Kiyoshi Koyama(Nihon University),Hiroshi Hoshikawa(Nihon University)

キーワード: 非破壊試験|渦電流探傷試験|溶接部検査|渦電流|漏洩磁束

要約(日本語): 雑音が小さく従来の渦電流探傷センサープローブに比べてSN比高くきず検出を行える一様渦電流センサープローブを用いた溶接部の探傷実験を行った。実験の結果、溶接部の縦きずと横きずを走査方向に対するプローブの向きを変えることなくSN比高く検出できる。また、縦きずについては一様な渦電流の変化を、横きずについては漏洩磁束を検出して探傷することを確認した。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 224 Kバイト