高耐圧ＩＧＢＴ短絡過電流検出法の改善

カテゴリ: 全国大会

論文No: 4-012

グループ名: 【全国大会】平成15年電気学会全国大会論文集

発行日: 2003/03/17

タイトル(英語): Improvement of Short Circuit detection for HV-IGBTs

著者名: 武田 亮(東芝),渡辺 幸夫(東芝)

著者名(英語): Makoto Takeda(Toshiba Corporation),Yukio Watanabe(Toshiba Corporation)

キーワード: 短絡検出

要約(日本語): 一般的にIGBTを短絡過電流状態から保護するためには、短絡後10μｓ以内に保護動作を行う必要がある。本論文で対象としているコレクタ・エミッタ間電圧（Vce)を検出して短絡状態を判定する方式では、Vceがゲート駆動電源電圧（15V程度）未満にならない場合は、短絡していると判定される。この方式を高耐圧IGBTに適用した場合、ターンオン特性（コレクタ・エミッタ間電圧が降下する時間）が遅く、Vceがゲート駆動電源電圧（15V程度）に達するのに時間がかかり（予稿の図の例では、約7μs）、この時間がVceを検出できず、短絡を判定できない空白な時間となっている。本論文は、Vceの時間変化（dVce/dt）の信号を使用することで、短絡検出時間を短くする手法を提案するものである。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,079 Kバイト