ＩＧＢＴ直列接続時の素子故障検出方法

カテゴリ: 全国大会

論文No: 4-013

グループ名: 【全国大会】平成15年電気学会全国大会論文集

発行日: 2003/03/17

タイトル(英語): Detection Method for Breakdown of IGBTs Connected in Series

著者名: 阿部 康(富士電機総合研究所),笹川 清明(富士電機総合研究所)

著者名(英語): Abe Yasushi(Fuji Electric Corporate Reseach and Development,Ltd.),Sasagawa Kiyoaki(Fuji Electric Corporate Reseach and Development,Ltd.)

キーワード: ＩＧＢＴ|直列接続|素子故障検出

要約(日本語): 電力変換装置の更なる大容量化に対応するため、ＩＧＢＴの直列接続技術について検討している。スイッチング素子を直列接続した時の問題点は、スイッチングタイミングのばらつきによる素子電圧のアンバランスと、素子破壊時の波及効果が大きいことである。今回、ＩＧＢＴのスイッチングタイミングばらつきを抑制する手段として、各ゲート線をコアによって磁気結合させ、またこのコアの出力電圧値から素子故障を瞬時に検出し、装置の停止を行う方法を提案し、シミュレーションによって検証を行った。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 820 Kバイト