自励半導体バルブの試験法に関する検討：その１絶縁試験

カテゴリ: 全国大会

論文No: 4-015

グループ名: 【全国大会】平成15年電気学会全国大会論文集

発行日: 2003/03/17

タイトル(英語): Study on Test Method for Self Commutated Valves

著者名: 田辺 茂(津山工業高等専門学校)

著者名(英語): shigeru nabe(Tsuyama National College of Technology)

キーワード: 直流送電|自励式|半導体バルブ|絶縁試験法

要約(日本語): 自励式直流送電が普及し始めているが、このシステムに用いる自励半導体バルブの試験については、国際的に受け入れられた規格ができていない。この論文では、まず自励バルブの絶縁試験法を検討するにあたり、考慮すべき過電圧ストレスを列挙した。またこれらの過電圧ストレスを、現在国際的認知されている試験規格が存在する他励式バルブのストレスと比較した。次に、自励バルブのこれらのストレスに対する耐量を検証するために行うべき絶縁試験項目を、他励バルブの試験項目と比較しながら提案した。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,302 Kバイト