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パルス励磁渦電流探傷問題の有限要素解析

パルス励磁渦電流探傷問題の有限要素解析

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カテゴリ: 全国大会

論文No: 5-096

グループ名: 【全国大会】平成15年電気学会全国大会論文集

発行日: 2003/03/17

タイトル(英語): Finite Element Analysis of Pulsed Eddy Current Testing Problem

著者名: 坪井 始(福山大学),瀬島 紀夫(福山大学)

著者名(英語): Hajime Tsuboi(Fukuyama University),Norio Seshima(Fukuyama University)

キーワード: 渦電流探傷|パルス励磁|有限要素法|過渡解析|ベンチマーク問題

要約(日本語): 非破壊検査のひとつである渦電流探傷(ECT: Eddy Current Testing)は、導電材料の非破壊検査に実用化されている。ECTのなかでも、パルス電流を励磁コイルに通電するパルス励磁ECTは、等価的に1度に多くの周波数応答の情報が得られること、励磁コイルに大きな瞬時電力が与えられることなどの利点がある。本稿では、TEAM WorkshopのProblem 27 として提案されているパルス励磁渦電流探傷問題の解析を行った。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 443 Kバイト

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