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パルス励磁渦電流探傷問題の有限要素解析
パルス励磁渦電流探傷問題の有限要素解析
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カテゴリ: 全国大会
論文No: 5-096
グループ名: 【全国大会】平成15年電気学会全国大会論文集
発行日: 2003/03/17
タイトル(英語): Finite Element Analysis of Pulsed Eddy Current Testing Problem
著者名: 坪井 始(福山大学),瀬島 紀夫(福山大学)
著者名(英語): Hajime Tsuboi(Fukuyama University),Norio Seshima(Fukuyama University)
キーワード: 渦電流探傷|パルス励磁|有限要素法|過渡解析|ベンチマーク問題
要約(日本語): 非破壊検査のひとつである渦電流探傷(ECT: Eddy Current Testing)は、導電材料の非破壊検査に実用化されている。ECTのなかでも、パルス電流を励磁コイルに通電するパルス励磁ECTは、等価的に1度に多くの周波数応答の情報が得られること、励磁コイルに大きな瞬時電力が与えられることなどの利点がある。本稿では、TEAM WorkshopのProblem 27 として提案されているパルス励磁渦電流探傷問題の解析を行った。
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 443 Kバイト
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