YBCO薄膜の磁化損失の磁界角度・膜幅依存性

カテゴリ: 全国大会

論文No: 5-132

グループ名: 【全国大会】平成15年電気学会全国大会論文集

発行日: 2003/03/17

タイトル(英語): Field angle and sample width dependences of magnetization loss of YBCO superconducting thin film

著者名: 西岡 孝真(横浜国立大学),姜哲夫 (横浜国立大学),雨宮 尚之(横浜国立大学),井上 邦章(Super-GM)

著者名(英語): Takamasa Nishioka(Yokohama National University),Zhenang Jiang(Yokohama National University),Naoyuki Amemiya(Yokohama National University),Kuniaki Inoue(Super-GM)

キーワード: 磁化損失|YBCO薄膜|磁界角度依存性|膜幅依存性

要約(日本語): YBCO線材の磁化損失について膜幅を変えて測定した報告はない。本研究では、幅10 mmと5 mmのYBCO超伝導薄膜に交流外部磁界(0～60mT)を15°刻みで0～90°と角度を変えて印加し、磁化損失を測定したので報告する。横軸に印加磁界、縦軸に磁化損失をプロットすると、磁界角度によらず、幅5 mmに比べ10 mmの場合の損失は役2倍となった。通電電流なしの場合の横磁界下での磁化損失を横磁界のテープ面に垂直な成分に対してプロットし、幅が10 mmと5 mmの場合の損失を比較すると, 理論値とよりよく一致した。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 848 Kバイト