温度サイクル下でのHTSトラップ磁束の劣化に関する一検討

カテゴリ: 全国大会

論文No: 5-135

グループ名: 【全国大会】平成15年電気学会全国大会論文集

発行日: 2003/03/17

タイトル(英語): A study on Deterioration of HTS trapped flux under thermal cycle operation

著者名: 木下 賢太郎(慶應義塾大学),沢 孝一郎(慶應義塾大学),岩佐 幸和(MIT)

著者名(英語): Kentaro Kinoshita(Keio University),kouichiro Sawa(Keio University),Yukikazu Iwasa(Massachusetts Institute of Technology)

キーワード: トラップ磁束|YBCOバルク|温度サイクル|磁場劣化

要約(日本語): YBCOバルク体は磁場を高く捕捉することができる上、臨界温度も約90Kと高い。しかしながら、常に冷凍機を稼動させて冷却し続けていては制約が多い。そこで、一度十分に冷やしたら、冷凍機を止めて放置し、再び冷やすという冷却機構を考えることができる。その時生じる温度サイクルに対して超電導トラップ磁束の変化は未だ不明である。本研究では特に最初の数サイクルにおけるトラップ磁束の劣化に注目して実験をおこなった。その結果、最初の温度上昇によって磁場が数％劣化して、その後は一定を保った。それらはビーンモデルだけでは説明できなく、トラップさせたときの温度など履歴を考慮する必要がある。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,167 Kバイト