1
/
の
1
HTSバルク体の磁化過程におけるAEの検出
HTSバルク体の磁化過程におけるAEの検出
通常価格
¥440 JPY
通常価格
セール価格
¥440 JPY
単価
/
あたり
税込
カテゴリ: 全国大会
論文No: 5-136
グループ名: 【全国大会】平成15年電気学会全国大会論文集
発行日: 2003/03/17
タイトル(英語): Detection of AE Signal in Magnetization Process of HTS Bulks
著者名: 加賀野井 啓介(成蹊大学),石郷岡猛 (成蹊大学),二ノ宮 晃(成蹊大学)
著者名(英語): Keisuke Kaganio(Seikei University),Takashi Isigohoka(Seikei University),Akira Ninomiya(Seikei University)
キーワード: 高温超電導バルク体
要約(日本語): HTS(高温超電導)バルク体を着磁させるには強力な磁界を印加するわけであるが、この磁化過程には何らかの原因によりAEが発生するものと推定される。その原因としてはフラックスジャンプが考えられる。その場合、磁束の移動に伴う誘導電圧に同期してAEが検出されると考えられる。実験結果は、予測されたように検出コイルの電圧パルスに同期したAE信号が確認された。電圧パルスおよびAE信号の大きさが2Tに近づくにつれて減少し、これより捕捉磁束密度の限界は2T付近にあると推定できる。
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 518 Kバイト
受取状況を読み込めませんでした
