着磁されたバルク超電導体の交流磁界印加特性解析

カテゴリ: 全国大会

論文No: 5-140

グループ名: 【全国大会】平成15年電気学会全国大会論文集

発行日: 2003/03/17

タイトル(英語): Trapped Field Charactristics Analysis of HTS Bulk in AC External Magnetic Field

著者名: 森崎 徹(早稲田大学),伊藤 学(早稲田大学),植田 浩史(早稲田大学),石山 敦士(早稲田大学)

著者名(英語): Tohru Morisaki(Waseda University),Manabu Ito(Waseda University),Hiroshi Ueda(Waseda University),Atsushi Ishiyama(Waseda University)

キーワード: バルク超電導体|交流磁界|交流損失|トラップ磁束|ｎ値|有限要素法

要約(日本語): バルク超電導体はモータの回転子、磁気浮上システム、バルクマグネット等の電気機器への応用が期待され、バルク超電導体を着磁して永久磁石として使用する試みがなされている。これらの電気機器での実用のためには着磁後に変動磁界が印加されたときのバルク超電導体の電磁気的な特性を明確にすることが必要不可欠である。そこで，これまでに，交流磁界印加試験を行いトラップ磁束の減衰を観測し、さらにE-J特性を考慮した有限要素法に基づく数値解析を行い、トラップ磁束の減衰の理由について検討してきた。そこで今回は，不可逆温度を考慮したE-J特性による有限要素法に基づく数値解析を行い，長時間にわたって交流磁界を印加した場合のトラップ磁束減衰特性について検討を行った。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 151 Kバイト