フィラメント配置が銀シースBi2223超電導多芯テープ線材の交流通電損失におよぼす影響

カテゴリ: 全国大会

論文No: 5-171

グループ名: 【全国大会】平成15年電気学会全国大会論文集

発行日: 2003/03/17

タイトル(英語): Effect of filament arrangements on AC transport self-field losses for Ag-sheathed Bi2223 multifilamentary tapes

著者名: 小川 洋輔(豊橋技術科学大学),稲垣 直人(豊橋技術科学大学),稲田 亮史(豊橋技術科学大学),中村 雄一(豊橋技術科学大学),太田 昭男(豊橋技術科学大学),張平祥 (西北有色金属研究院)

著者名(英語): Yosuke Ogawa(Toyohashi University of Technology),Naoto Inagaki(Toyohashi University of Technology),Ryoji Inada(Toyohashi University of Technology),Yuichi Nakamura(Toyohashi University of Technology),Akio Oota(Toyohashi University of Technology),Pingxiang Zhang(Northwest Institute for Nonferrous Metal Research)

キーワード: 銀シース|多芯テープ|自己磁界|交流通電損失|フィラメント配置

要約(日本語): 高温超電導線材の交流通電損失の低減化は、電力分野への応用を考えた場合重要である。テープ形状の線材では、自己磁界による磁束線は主にテープエッジから中心に向かって出入りする。このため、交流通電損失の振る舞いはテープ断面幅方向のフィラメント配置の制御に大きく依存すると推測される。本研究では、テープ断面内のフィラメント配置が銀シースBi2223超電導テープの交流通電損失におよぼす影響について検討した。40～200Hzの周波数範囲においては、通電損失の主要因は線材形状によらず超電導体自身が発生するヒステリシス損失が支配的であった。しかしながら、その振る舞いはテープ断面内のフィラメントの配置に依存して複雑に変化する結果が得られた。この結果は、テープ断面幅方向への磁束侵入がフィラメント配置によって変化し、テープエッジ近傍のフィラメント内における損失発生状況が変化したことに起因すると考えられる。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 720 Kバイト