零相電圧監視絶縁劣化センサの開発

カテゴリ: 全国大会

論文No: 6-226

グループ名: 【全国大会】平成15年電気学会全国大会論文集

発行日: 2003/03/17

タイトル(英語): Development of Zero-Phase-Sequence Voltage Monitoring for Diagnosis of Insulation Aging

著者名: 加藤 俊介(日立製作所),谷口 洋一郎(日立製作所),栗原 俊宏(日立製作所),古賀 博勝(日立製作所),藤田 康信(日立製作所)

著者名(英語): Shunsuke Kato(Hitachi,Ltd),Yoichiro Taniguchi(Hitachi,Ltd),Toshihiro Kurihara(Hitachi,Ltd),Hirokatsu Koga(Hitachi,Ltd),Yasunobu Fujita(Hitachi,Ltd)

キーワード: 絶縁劣化|遠隔監視|間欠地絡|零相電圧

要約(日本語): 近年，受変電設備はより高い信頼性，品質の維持が求められている。そこで，受変電機器の地絡故障に至る前兆を捕らえ，劣化診断する目的で，従来の地絡過電圧(６４)で検出できなかった絶縁劣化進行過程で発生するパルス状の地絡電圧を精度良く測定、検出することが可能なセンサを開発した。また，通信仕様としてJPCN1(JEMA)を有し，汎用I/Fにより容易に遠隔からデータ収受できる遠隔監視システムである。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 739 Kバイト