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JEC規格にもとづく汚損避雷器の熱暴走の検討

JEC規格にもとづく汚損避雷器の熱暴走の検討

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カテゴリ: 全国大会

論文No: 6-244

グループ名: 【全国大会】平成15年電気学会全国大会論文集

発行日: 2003/03/17

タイトル(英語): A study following JEC on thrmal runaway of contaminated surge arrester

著者名: 大脇淳一 (名城大学),内藤 克彦(名城大学),水野 幸男(名古屋工業大学)

著者名(英語): Jun'ichi Owaki(Meijo University),Katsuhiko Naito(Meijo University),Yukio Mizuno(Nagoya Institute of Technology)

キーワード: 避雷器|汚損|熱暴走

要約(日本語): 避雷器事故例において爆発事故が報告されており、この原因として、汚損による碍菅表面の不均一な電位分布が引き起こす内部素子柱に沿った不均一電位分布と指摘されている。不均一な電位分布は避雷器の熱暴走を引き起こすことがある。そこで、本研究では、我々が特別に設定した汚損条件を用いてシミュレーションを行い、JECに記載されている避雷器の熱暴走判定を用いて熱暴走の有無について検討した結果を報告する。今回の汚損度での結果から、「避雷器の熱暴走が起こるかは不明であり、さらに30分連続使用電圧を印加することが好ましい」となるが、約45分後からは電流値はほぼ安定で、内部素子の温度上昇は高くないので、熱暴走は起きないと考えられる。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,303 Kバイト

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