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水平および垂直配列1回線送電線の耐雷信頼性比較

水平および垂直配列1回線送電線の耐雷信頼性比較

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カテゴリ: 全国大会

論文No: 7-025

グループ名: 【全国大会】平成15年電気学会全国大会論文集

発行日: 2003/03/17

タイトル(英語): Comparison of lightning performance of single circuits with horizontal and vertical arrangements

著者名: 西川 征志(名城大学),大久保範人 (名城大学),木村 頼雅(名城大学),内藤 克彦(名城大学),水野 幸男(名古屋工業大学)

著者名(英語): Masashi Nishikawa(Meijo University),Norihito Okubo(Meijo University),Yorimasa Kimura(Meijo University),Katsuhiko Naito(Meijo University),Yukio Mizuno(Nagoya Institute of Technology)

キーワード: ATP|送電線|雷

要約(日本語): タイなど海外に多く見られる1回線水平配列および1回線垂直配列の送電線につき、落雷時の事故発生頻度をATPによりシミュレーションを行った。その結果、今回の解析条件では水平配列の架空地線が2本の場合は、垂直配列に比べ事故率が低かった。また、架空地線の高さの影響を解析した結果、架空地線の高さが増加するほど事故率が減少する事がわかった。 今回のような解析条件を用いた場合は、架空地線が2本で架空地線の高さが通常の2倍の1回線水平配列モデルが最も雷による事故発生頻度が小さいことがわかった。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,039 Kバイト

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